99贵宾会

    MEMS Probe Card

    MEMS Probe Card

    · 针尖 Over Drive 50um-130um,可满足不同机台测试行程

    · 自主研发 MEMS Pin合金工艺,能满足极限间距(最小45um)

    · 针身一致性高,针尖水平在10um以内测试更稳定

    · 采用独特 MEMS Point工艺,满足不同 Pad测试需求

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